TP Polarisation par réflexion et Ellipsométrie

Ce TP a été revisité à des fins pédagogiques, en allant 'pas à pas' vers la mesure d'indices optiques par ellipsométrie.
Cette technique, courante dans l'industrie et la recherche, repose sur le principe d'une polarisation rendue elliptique après réflexion sur un échantillon.

Sujets abordés :
- Loi de Malus
- Production d'une polarisation circulaire
- Analyse de quelques ellipses de polarisation
- Polarisation par réflexion et angle de Brewster
- Mesure des indices (n,k) de substrats massifs par ellipsométrie à extinction

Principes et objectifs :
La plateforme goniométrique permet une grande précision de mesure (1 minute d’arc), nécessaire lorsque l’on souhaite vérifier avec exactitude les propriétés de polarisation de matériaux réfléchissants et réaliser des mesures précises d’indice de réfraction.
L’angle de Brewster est un angle d’incidence particulier pour lequel la lumière réfléchie possède des propriétés de polarisation particulières qui seront par exemple exploitées pour déterminer l’indice de réfraction d’un matériau ou l’épaisseur d’une couche transparente sur un substrat.

Composition :
▪ 1 platine goniométrique de précision 1 minute d’arc avec porte réseau
▪ 2 bras pivotants porte composants
▪ 1 laser vert 532nm - 1mW (réf.205157)
▪ 1 diode laser rouge 650nm - 1mW (réf.205151)
▪ 3 polariseurs linéaires orientés dans le plan horizontal en monture graduée et rotative (réf.204651)
▪ 2 lames quart onde orientés dans le plan horizontal en monture graduée et rotative (réf.204652)
▪ 1 jeu de 4 échantillons d’étude (réf.205031)
▪ 1 puissancemètre laser à sonde déportée sur tige (réf.295969+204612)
▪ 1 loupe éclairante (réf.204752)
▪ 1 utilitaire de calcul d’indices
▪ 1 notice d’expériences