- Système : interféromètre Élève
- Source : laser He-Ne 632.8nm 1mW, classe II
- Écran : dépoli quadrillé 200 x 200 mm
- Composants : lentilles de projection Ø 80 mm, f +200 mm, expanseur pour laser
- Supports : montures pour lentilles, 3 pieds en demi-lune
- Documentation : manuel d'expériences
TP interféromètre de Michelson élève
Réf : 202782
Ovio instruments
Les points forts
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Supérieur
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CPGE
3 333,33 €
4 000,00 €
au lieu de
4 254,50 €
-6%
Ayez accès aux expériences d'interférométrie à faible coût avec une qualité de mesure très satisfaisante grâce à cet équipement homogène articulé autour d'un interféromètre à grand bras.
L'espace libéré entre les miroirs et la séparatrice permet des expériences et des mesures de TP difficilement réalisables autrement.
L’ensemble principal au laser peut être complété par des accessoires supplémentaires :
- Complément "Sources Variées" (202 783) : sources spectrales de Sodium et Mercure et blanche 12V
- 45W
. Complément "Mesures et Visualisation" (202 784) : cuve à vide, kit lame mince et détecteur 2D Ovisio HD
| Type d'instrument | Michelson |
| Thématique TP | Optique, Interférences par division d'amplitude, Interférométrie, Michelson |
| Type de matériel | TP clé en main |
| Caractéristiques techniques |